cl, K, si, mg, al, S, P, ca, fe в цементе и известняке структура оптического пути с верхней подсветкой высокая точность, хорошая стабильность, простота в эксплуатации результаты испытаний близки к испытаниям мокрым химическим методом всего несколько минут для анализа десятков элементов в образце
точный, быстрый, неразрушающий, простой, экологически безопасный для элементов в диапазоне na-u тестирование на отсутствие галогенов, тестирование ROHS/ELV измерение толщины покрытия идентификация ювелирных изделий, драгоценных камней, драгоценных металлов освоить неизвестный материал выдающаяся чувствительность приводит к повышению точности в 3 раза низкая стоимость измерения, простота в эксплуатации
苏ICP备18046951号-1
