Оптический эмиссионный спектрометр прямого считывания для анализа металлов

Резюме:

Оптико-эмиссионный спектрометр W6 — это самый совершенный дуговой/искровой OES с максимальной производительностью для анализа металлов. Он использует полностью цифровую технологию для замены громоздкой технологии моделирования фотоумножителей (ФЭУ) и лидирует в международной спектрометрической технологии. Применение конструкции вакуумной оптической камеры, полностью цифрового источника возбуждающего света, усовершенствованных КМОП-детекторов и высокоскоростной системы считывания данных наделяет устройство высокими характеристиками, сверхнизким пределом обнаружения (LOD), долговременной стабильностью и повторяемостью. Его аналитическая точность достигает мирового уровня. Это одно из основных устройств, которое применяется для контроля качества, узнаваемости бренда материалов, исследований и разработок материалов в металлургической промышленности, обработке и плавке. Этот анализатор устанавливает новый стандарт для исследований и разработок и контроля процессов/качества.

Приложения:

Спектрометры оптической эмиссии W6 (искровые OES) как одно из основных устройств, которое применяется для контроля качества, распознавания торговых марок материалов, исследований и разработок материалов в металлургическом производстве, обработке и плавке. W6 используются для приложений в элементном анализе металлов, микроэлементов анализ для науки и промышленности, таких как металлургия, литейное производство, машиностроение, научные исследования, контроль продукции, автомобилестроение, нефтехимическое машиностроение, судостроение, электрика, аэрокосмическая промышленность, ядерная энергетика, выплавка, обработка и переработка металлических и цветных металлов.

Высококлассные лаборатории обороны, железные дороги, чистые исследования и т. Д.

Крупные металлургические заводы Быстрый анализ с ограничениями в диапазоне от низких до одной части на миллион для C, S, P, B, N, Ti

Чистые металлы Чистота 99,95%+ Al, Pb, Zn, Cu и т. д.

Соответствие нормативным требованиям Очень низкие значения LOD для контроля Pb, Cd, As и т. д. (например, судостроение)

Производители специальных сплавов: широкий спектр элементов с низкими пределами обнаружения

Производственное оборудование

Идентификация складского материала

Основание: Fe, Cu, Al, Ni, Co, Mg, Ti, Zn, Pb, Sn, Ag и т. Д.

Функции:

Основные характеристики аппарата

1.Оптимизированная система вакуумной оптики

2. Полностью цифровой источник света Inspire

3. Функциональная конструкция устройства возбуждения

4. Уникальная система подачи аргона

5.Усовершенствованная вакуумная система

6. Высокоинтегрированная система прямого считывания

7. Визуальное и простое в использовании программное обеспечение для анализа

Технические характеристики:

Оптическая система

1. Обнаружение основания Fe, Al, Cu, Ni, Ti, Co, Zn, Sn, Mg, Pb и т. д.

2. Структура Пашена-Рунге парного типа, полный спектр оптической системы;

3. Несколько высокопроизводительных КМОП-детекторов;

4. Интеграция формирования оптической камеры, установка динамического парка румынских архивов, устойчивость к изменениям температуры окружающей среды;

5. Легкая вакуумная камера, предназначенная для обеспечения C, S, P, N для достижения наилучшей производительности;

6. Контроль комнатной температуры Ray, постоянная температура 35 ℃;

7. Прямая технология оптики линз MgF2 и материалы для обеспечения наилучших длин волн ультрафиолетового излучения C, S, P, N.

Станция возбуждения образцов

1. Интегрированный коллектор, технология инжекторного электрода;

2. Оптимизация конструкции газового контура аргона обеспечивает эффективное возбуждение охлаждающей станции и эффективное попадание металлической пыли, образующейся в процессе, в фильтр; возбуждение образца более стабильно и значительно снижает потребление металлической пыли телом, помогает защитить здоровье и безопасность оператора;

3. Меньшее пространство для возбуждения, меньшее потребление аргона;

4. Простой в использовании держатель образца;

5. С функцией электрода следует подметать, более длительный срок службы, легкая очистка электрода;

6. Апертура 13 мм стимулирует более благоприятный анализ образца;

7. Таблица возбуждения открытого образца может быть адаптирована к различным размерам, формам анализировать больше образцов (с кабелем);

8. Конструкция устройства объектива SLR, общий персонал может облегчить обслуживание возбуждения и очистку объектива.

Источник света возбуждения

1. Новый регулируемый цифровой источник света, максимальная частота до 1000 Гц;

2. Технология прогнозирования высоких энергий (HEPS);

3. Оптимизирована конструкция цепей управления и питания, улучшены функции безопасности;

4. Обеспечить лучший анализ для различных целевых искр, дуги или комбинации форм волны возбуждения;

5. Ток разряда: 400 А Макс.

Система сбора данных

1. Высокопроизводительный процессор данных ARM со сверхскоростным сбором данных и функциями управления.

2. Высокопроизводительная твердотельная технология обнаружения CMOS, диапазоны спектра в пределах приема полного спектра;

3. Внешний компьютер (опционально);

4. FPGA и высокоскоростная технология передачи данных, данные считываются в мощные, тестовые данные считываются в целом за короткое время.

Программное обеспечение для анализа

1. Многоязычное программное обеспечение для графического анализа полного спектра на базе CMOS, удобное и практичное;

2. Комплексный контроль управления всем процессом измерения и предоставление пользователям мощных возможностей обработки данных и возможности вывода отчетов об испытаниях;

3. Прибор может быть настроен с несколькими заводскими калибровочными кривыми и дополнительным анализом материалов и передовыми решениями;

4. Программное обеспечение для достижения полного спектра обнаружения, интеллектуальных дедуктивных помех, алгоритмов подавления темнового тока, фона и шума для улучшения аналитических инструментов;

5. Полная автоматическая диагностика системы;

6. Всеобъемлющие функции управления базой данных можно легко запрашивать, сводные данные;

7. Интеллектуальные алгоритмы коррекции для обеспечения стабильного и надежного прибора;

8. Полный спектр информации и алгоритм вывода помех для обеспечения более точного инструментального анализа;

9. Адаптируйтесь к новейшим операционным системам Windows.

Параметр: